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掃描探針顯微鏡余憶童稚時，能張目對日，明察秋毫。見藐小微物，必細察其紋理，故時有物外之趣。
《幼時記趣》 ----沈復
縱觀古今所有的發明無一不是對自然現象的觀察,進而觸發靈感再經研究發展而生新事物,由此凸顯"觀察"的重要性.隨著科技的發展進入到納米世界領域,而"觀察"這項工作也漸漸遠超過肉眼,放大鏡,光學顯微鏡等儀器所能負荷的范圍. 掃描探針顯微鏡（Scanning Probe Microscope，SPM）是掃描隧道顯微鏡（STM）及在掃描隧道顯微鏡的基礎上發展起來的各種新型探針顯微鏡（原子力顯微鏡AFM，橫向力顯微鏡LFM，磁力顯微鏡MFM等等）的統稱，是國際上近年發展起來的表面分析儀器。 掃描探針顯微鏡的工作原理 就像用手指頭觸摸點字一般，當受過訓練的手指劃過一排盲文字體時就能讀取其中的意義，探針代替了手指，精密的移動裝置代替了手指的移動過程。原子力顯微鏡(AFM)的工作原理 推薦閱讀 |
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