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雙探頭表面三維形貌分析系統
產品介紹產品介紹： 采用彩色激光共焦技術，可實現對材料表面微米、次微米級粗糙度檢測，并且可以進行2D輪廓/3D微觀形貌掃描分析，具有測量精度高，速度快，重復性好的優點。 該系統可用于測量大尺寸樣品，軟件功能含括了點測量、線測量、面測量等強大的功能，可選模塊包括2D&3D粗糙度檢測與分析、2D輪廓測量與3D形貌分析、平面度檢測、共面度檢測、平行度檢測等。 本系統特點： 一、采用傳動裝置：直線磁軸電機驅動 二、專業集成設計 三、豐富的三維計測 四、多樣的三維觀察
技術參數技術參數：
電動臺參數：
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FM-AR532/AR785原子力顯微鏡與激光拉曼光譜儀一體機 對納米材料表面形貌、顆粒度、粗糙度和拉曼光譜性能進行表征、分析 |
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FM-Nanoview1000AFM 分體式原子力顯微鏡 帶光學定位的CCD觀測系統，實時觀測與定位探針樣品掃描區域 |
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FM-Nanoview6800一體式原子力顯微鏡 開啟全民原子力顯微鏡時代，掃描范圍更廣，定位更精確 |
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自由曲面三維面型檢測系統 |
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原子力顯微鏡（環境控制型）FM-Nanoview EC-AFM |
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原子力顯微鏡光學一體機 FM-Nanoview Op-AFM |
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