原子力顯微鏡光學一體機 FM-Nanoview Op-AFM

SKU: FM-Nanoview Op-AFM

產品介紹

◆ 光學金相顯微鏡和原子力顯微鏡一體化設計，功能強大

◆ 同時具備光學顯微鏡和原子力顯微鏡成像功能，兩者可同時工作，互不影響

◆ 同時具備光學二維測量和原子力顯微鏡三維測量功能

◆ 激光檢測頭和樣品掃描臺集成一體，結構非常穩定，抗干擾性強
◆ 精密探針定位裝置，激光光斑對準調節非常簡便
◆ 單軸驅動樣品自動垂直接近探針，使針尖垂直于樣品掃描
◆ 馬達控制加壓電陶瓷自動探測的智能進針方式，保護探針及樣品

◆ 超高倍光學定位系統，實現探針和樣品掃描區域精確定位
◆ 集成掃描器非線性校正用戶編輯器，納米表征和測量精度優于98%

應用案例

GaN襯底掃描范圍3µm×3µm.png 單晶硅金字塔.png 掃描范圍30µm×30µm.png

GaN襯底/掃描范圍3µm×3µm 單晶硅金字塔/掃描范圍30µm×30µm

微米光柵.png 掃描范圍16µm×16µm.png

微米光柵/掃描范圍30µm×30µm MoTe/掃描范圍16µm×16µm


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		FM-Nanoview6800一體式原子力顯微鏡開啟全民原子力顯微鏡時代，掃描范圍更廣，定位更精確				自由曲面三維面型檢測系統


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