橫向力/側向力顯微鏡(LFM)?側向力顯微鏡的應用

小編提示:橫向力/側向力顯微鏡、磁力顯微鏡均屬于掃描探針顯微鏡。

1.     原理

探針掃描時懸臂的偏折量可以回饋成高度變化的影像，但是掃描的同時會有摩擦力的產生，而且摩擦力會造成探針懸臂的左右扭曲(圖7-1)，所以利用偵測懸臂的扭曲量我們可以得知試片表面摩擦力的分布 ，此為接觸式原子力顯微術的應用。

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