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      原子力顯微鏡(環境控制型)FM-Nanoview EC-AFM

      SKU: FM-Nanoview EC-AFM

       

      工作模式 接觸模式、輕敲模式 照明方式 LED柯勒照明系統
      選配模式 摩擦力/側向力、振幅/相位、磁力/靜電力 光學調焦 粗微動手動調焦
      力譜曲線 F-Z力曲線、RMS-Z曲線 攝像頭 500萬像素CMOS傳感器
      工作環境 空氣/液體、惰性氣體、加熱/制冷環境 顯示屏 10.1寸平板顯示器,帶圖像測量功能
      XY掃描范圍 50×50um,可選20×20um,100×100um 加熱裝置 溫度控制范圍室溫~250℃(選配)
      Z掃描范圍 5um,可選2.5um,10um 冷熱一體臺 溫度控制范圍-20℃~220℃(選配)
      掃描分辨率 橫向0.2nm,縱向0.05nm 掃描速率 0.6Hz~30Hz
      樣品尺寸 Φ≤68mm,H≤20mm 掃描角度 0~360°
      樣品臺行程 25×25mm 運行環境 Windows XP/7/8/10操作系統
      光學物鏡 5X/10X/20X/50X平場復消色差物鏡 通信接口 USB2.0/3.0
      光學目鏡 10X    

      應用案例

         鋇鐵氧形貌.png   瀝青.png     掃描范圍.png

           鋇鐵氧形貌/范圍20µm×20µm                                                            瀝青/掃描范圍8µm×8µm

         鋇鐵氧磁疇.png   電池材料.png   掃描.png

          鋇鐵氧磁疇/范圍20µm×20µm                                                        電池材料/掃描范圍8µm×8µm               

      注意事項:
      儀器成套性與可選購件可參考產品原頁面,本頁只提供儀器核心技術參數。
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