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批量采購 配送方式 技術咨詢 聯系我們 打印該頁 KEL-X-4H型顯微熔點測定儀加熱恒溫工作臺偏光熔點儀 SKU: KEL-X-4H 產品介紹    產品簡介：   該儀器是專為材料學、生物化學、冶金學、有機化學、高分子及納米材料科學而研制?？梢耘c偏光顯微鏡、金相顯微鏡、體視顯微鏡等配合使用，在微觀上觀察紀錄其溶化、升華、結晶過程中的狀態和各種變化。并采用人性化“傻瓜”設計，自動化程度高，操作簡單 儀器特點 ?獨特的實體無縫隙熱體結構  導熱快,溫度均勻一致，熱源無氧化,壽命長久,能耗低，，能耐受長時間高溫連續不間斷工作。獨特的熱力學隔離設計高、低溫區有效隔離，高溫載物臺高達300℃時，其外體可安全握持不燙手！直流低電壓加熱  安全﹑無輻射。 技術參數 技術參數 1、溫度范圍：室溫—300℃ 2、工作電源：直流，36V，1.5A 3、精度：測量精度，全范圍≤±0.2% 4、系統波動度：±0.2℃ 5、隔熱板尺寸：φ110mm，材質為氧化鋁。 6、中心加熱板：不銹鋼加熱板32mm通光孔徑φ3.5mm

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